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Difractómetro de Rayos X $El difractómetro Empyrean de PANanalytical permite realizar estudios de difracción de RX en polvos, películas delgadas, nanomateriales y objetos sólidos. Entre las posibilidades que ofrece, se puede realizar identificación de fases y análisis cuantitativo, reflectometría, difracción con ángulo rasante, análisis de los efectos de tensiones y determinación de tamaños de cristalita. La tecnología PreFix permite intercambiar componentes del equipo con facilidad y sin necesidad de procedimientos de realineación.$